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SN74LVTH182502APMR

SN74LVTH182502APMR

Nur als Referenz

Teilenummer SN74LVTH182502APMR
PNEDA Teilenummer SN74LVTH182502APMR
Beschreibung IC SCAN-TEST-DEV/TRANSCVR 64LQFP
Hersteller Texas Instruments
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Auf Lager 5.778
Lager Shipped from Hong Kong SAR
Voraussichtliche Lieferung Jun 12 - Jun 17 (Wählen Sie Expressed Shipping)
Guarantee Bis zu 1 Jahr [PNEDA-Garantie] *

SN74LVTH182502APMR Ressourcen

Marke Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. ArtikelnummerSN74LVTH182502APMR
KategorieHalbleiterLogik-ICsLogik - Speziallogik

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SN74LVTH182502APMR Technische Daten

Hersteller
Serie74LVTH
LogiktypABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Versorgungsspannung2.7V ~ 3.6V
Anzahl der Bits18
Betriebstemperatur-40°C ~ 85°C
MontagetypSurface Mount
Paket / Fall64-LQFP
Lieferantengerätepaket64-LQFP (10x10)

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Logiktyp

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Versorgungsspannung

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Anzahl der Bits

28

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

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SN74S1053NG4

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Hersteller

Serie

74S

Logiktyp

Schottky Barrier Diode Bus-Termination Array

Versorgungsspannung

-

Anzahl der Bits

16

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Through Hole

Paket / Fall

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Lieferantengerätepaket

20-PDIP

SN74LS181N

Texas Instruments

Hersteller

Serie

74LS

Logiktyp

Arithmetic Logic Unit

Versorgungsspannung

4.75V ~ 5.25V

Anzahl der Bits

-

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Through Hole

Paket / Fall

24-DIP (0.600", 15.24mm)

Lieferantengerätepaket

24-PDIP

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Diodes Incorporated

Hersteller

Diodes Incorporated

Serie

-

Logiktyp

-

Versorgungsspannung

-

Anzahl der Bits

-

Betriebstemperatur

-

Montagetyp

-

Paket / Fall

-

Lieferantengerätepaket

-

74ACT1284TTR

STMicroelectronics

Hersteller

STMicroelectronics

Serie

74ACT

Logiktyp

IEEE STD 1284 Translation Transceiver

Versorgungsspannung

4.5V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

7

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

20-TSSOP (0.173", 4.40mm Width)

Lieferantengerätepaket

20-TSSOP

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