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SN74ABT8646DLR

SN74ABT8646DLR

Nur als Referenz

Teilenummer SN74ABT8646DLR
PNEDA Teilenummer SN74ABT8646DLR
Beschreibung IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
Hersteller Texas Instruments
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Auf Lager 2.214
Lager Shipped from Hong Kong SAR
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Guarantee Bis zu 1 Jahr [PNEDA-Garantie] *

SN74ABT8646DLR Ressourcen

Marke Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. ArtikelnummerSN74ABT8646DLR
KategorieHalbleiterLogik-ICsLogik - Speziallogik

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SN74ABT8646DLR Technische Daten

Hersteller
Serie74ABT
LogiktypScan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Versorgungsspannung4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits8
Betriebstemperatur-40°C ~ 85°C
MontagetypSurface Mount
Paket / Fall28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket28-SSOP

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Hersteller

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Hersteller

Serie

74ABTE

Logiktyp

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Versorgungsspannung

4.5V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

16

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

48-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)

Lieferantengerätepaket

48-SSOP

SN74BCT8245ADW

Texas Instruments

Hersteller

Serie

74BCT

Logiktyp

Scan Test Device with Bus Transceivers

Versorgungsspannung

4.5V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

8

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

Lieferantengerätepaket

24-SOIC

MC10H334FN

ON Semiconductor

Hersteller

ON Semiconductor

Serie

10H

Logiktyp

Driver/Receiver

Versorgungsspannung

-

Anzahl der Bits

4

Betriebstemperatur

0°C ~ 75°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

20-LCC (J-Lead)

Lieferantengerätepaket

20-PLCC (9x9)

PT7C5029B-5GDE

Diodes Incorporated

Hersteller

Diodes Incorporated

Serie

-

Logiktyp

-

Versorgungsspannung

-

Anzahl der Bits

-

Betriebstemperatur

-

Montagetyp

-

Paket / Fall

-

Lieferantengerätepaket

-

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