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SN74ABT8245DW

SN74ABT8245DW

Nur als Referenz

Teilenummer SN74ABT8245DW
PNEDA Teilenummer SN74ABT8245DW
Beschreibung IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC
Hersteller Texas Instruments
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Lager Shipped from Hong Kong SAR
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Guarantee Bis zu 1 Jahr [PNEDA-Garantie] *

SN74ABT8245DW Ressourcen

Marke Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. ArtikelnummerSN74ABT8245DW
KategorieHalbleiterLogik-ICsLogik - Speziallogik

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SN74ABT8245DW Technische Daten

Hersteller
Serie74ABT
LogiktypScan Test Device with Bus Transceivers
Versorgungsspannung4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits8
Betriebstemperatur-40°C ~ 85°C
MontagetypSurface Mount
Paket / Fall24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket24-SOIC

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Serie

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Logiktyp

Differential Receiver

Versorgungsspannung

3.3V, 5V

Anzahl der Bits

1

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

8-TSSOP, 8-MSOP (0.118", 3.00mm Width)

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Hersteller

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-

Versorgungsspannung

-

Anzahl der Bits

-

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-

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Hersteller

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Anzahl der Bits

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Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

8-TSSOP, 8-MSOP (0.118", 3.00mm Width)

Lieferantengerätepaket

8-TSSOP

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