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SN74ABT8652DWR

SN74ABT8652DWR

Nur als Referenz

Teilenummer SN74ABT8652DWR
PNEDA Teilenummer SN74ABT8652DWR
Beschreibung IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
Hersteller Texas Instruments
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Auf Lager 4.590
Lager Shipped from Hong Kong SAR
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Guarantee Bis zu 1 Jahr [PNEDA-Garantie] *

SN74ABT8652DWR Ressourcen

Marke Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. ArtikelnummerSN74ABT8652DWR
KategorieHalbleiterLogik-ICsLogik - Speziallogik

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SN74ABT8652DWR Technische Daten

Hersteller
Serie74ABT
LogiktypScan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Versorgungsspannung4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits8
Betriebstemperatur-40°C ~ 85°C
MontagetypSurface Mount
Paket / Fall28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket28-SOIC

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74ABT

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Versorgungsspannung

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Anzahl der Bits

9

Betriebstemperatur

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Montagetyp

Surface Mount

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Hersteller

Serie

74BCT

Logiktyp

Scan Test Device with Bus Transceivers

Versorgungsspannung

4.5V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

8

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Through Hole

Paket / Fall

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SN74ACT1073NSR

Texas Instruments

Hersteller

Serie

74ACT

Logiktyp

Bus Termination Array

Versorgungsspannung

4.5V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

16

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

20-SOIC (0.209", 5.30mm Width)

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Hersteller

Serie

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Logiktyp

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Versorgungsspannung

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Anzahl der Bits

20

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

64-LQFP

Lieferantengerätepaket

64-LQFP (10x10)

MC100EP16FDTG

ON Semiconductor

Hersteller

ON Semiconductor

Serie

100EP

Logiktyp

Differential Receiver/Driver

Versorgungsspannung

3V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

-

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

8-TSSOP, 8-MSOP (0.118", 3.00mm Width)

Lieferantengerätepaket

8-TSSOP

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