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SN74ABT8652DWR

SN74ABT8652DWR

Nur als Referenz

Teilenummer SN74ABT8652DWR
PNEDA Teilenummer SN74ABT8652DWR
Beschreibung IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
Hersteller Texas Instruments
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Auf Lager 4.590
Lager Shipped from Hong Kong SAR
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SN74ABT8652DWR Ressourcen

Marke Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. ArtikelnummerSN74ABT8652DWR
KategorieHalbleiterLogik-ICsLogik - Speziallogik

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SN74ABT8652DWR Technische Daten

Hersteller
Serie74ABT
LogiktypScan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Versorgungsspannung4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits8
Betriebstemperatur-40°C ~ 85°C
MontagetypSurface Mount
Paket / Fall28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket28-SOIC

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Serie

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Logiktyp

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Anzahl der Bits

-

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

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Hersteller

Maxim Integrated

Serie

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Logiktyp

Comparator, Driver

Versorgungsspannung

-1.5V ~ 6.5V

Anzahl der Bits

2

Betriebstemperatur

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Montagetyp

Surface Mount

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Texas Instruments

Hersteller

Serie

74LS

Logiktyp

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Versorgungsspannung

4.75V ~ 5.25V

Anzahl der Bits

4

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

16-SOIC (0.154", 3.90mm Width)

Lieferantengerätepaket

16-SOIC

Hersteller

NXP USA Inc.

Serie

74ABT

Logiktyp

Parity Generator/Checker

Versorgungsspannung

4.5V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

9

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

28-LCC (J-Lead)

Lieferantengerätepaket

28-PLCC (11.51x11.51)

SY100EL16VBZI

Microchip Technology

Hersteller

Microchip Technology

Serie

100EL

Logiktyp

Differential Receiver

Versorgungsspannung

3.3V, 5V

Anzahl der Bits

1

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

8-SOIC (0.154", 3.90mm Width)

Lieferantengerätepaket

8-SOIC

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