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SN74LVTH18504APMR

SN74LVTH18504APMR

Nur als Referenz

Teilenummer SN74LVTH18504APMR
PNEDA Teilenummer SN74LVTH18504APMR
Beschreibung IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP
Hersteller Texas Instruments
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Auf Lager 8.856
Lager Shipped from Hong Kong SAR
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SN74LVTH18504APMR Ressourcen

Marke Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. ArtikelnummerSN74LVTH18504APMR
KategorieHalbleiterLogik-ICsLogik - Speziallogik

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SN74LVTH18504APMR Technische Daten

Hersteller
Serie74LVTH
LogiktypABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Versorgungsspannung2.7V ~ 3.6V
Anzahl der Bits20
Betriebstemperatur-40°C ~ 85°C
MontagetypSurface Mount
Paket / Fall64-LQFP
Lieferantengerätepaket64-LQFP (10x10)

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Montagetyp

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Hersteller

Serie

4000B

Logiktyp

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Versorgungsspannung

3V ~ 18V

Anzahl der Bits

8

Betriebstemperatur

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Surface Mount

Paket / Fall

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Hersteller

NXP USA Inc.

Serie

-

Logiktyp

1:2 Registered Buffer with Parity

Versorgungsspannung

1.7V ~ 2V

Anzahl der Bits

28

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

160-TFBGA

Lieferantengerätepaket

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Hersteller

ON Semiconductor

Serie

10EP

Logiktyp

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Versorgungsspannung

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Anzahl der Bits

1

Betriebstemperatur

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Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

8-SOIC (0.154", 3.90mm Width)

Lieferantengerätepaket

8-SOIC

SN74LVTH182504APM

Texas Instruments

Hersteller

Serie

74LVTH

Logiktyp

ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers

Versorgungsspannung

2.7V ~ 3.6V

Anzahl der Bits

20

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

64-LQFP

Lieferantengerätepaket

64-LQFP (10x10)

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