SN74LVTH182512DGGR
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Teilenummer | SN74LVTH182512DGGR |
PNEDA Teilenummer | SN74LVTH182512DGGR |
Beschreibung | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP |
Hersteller | Texas Instruments |
Stückpreis | Angebot anfordern |
Auf Lager | 4.932 |
Lager | Shipped from Hong Kong SAR |
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SN74LVTH182512DGGR Ressourcen
Marke | Texas Instruments |
ECAD Module | |
Mfr. Artikelnummer | SN74LVTH182512DGGR |
Kategorie | Halbleiter › Logik-ICs › Logik - Speziallogik |
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SN74LVTH182512DGGR Technische Daten
Hersteller | |
Serie | 74LVTH |
Logiktyp | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
Versorgungsspannung | 2.7V ~ 3.6V |
Anzahl der Bits | 18 |
Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
Montagetyp | Surface Mount |
Paket / Fall | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
Lieferantengerätepaket | 64-TSSOP |
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