SN74LVTH182512DGGR
Nur als Referenz
| Teilenummer | SN74LVTH182512DGGR |
| PNEDA Teilenummer | SN74LVTH182512DGGR |
| Beschreibung | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP |
| Hersteller | Texas Instruments |
| Stückpreis | Angebot anfordern |
| Auf Lager | 4.932 |
| Lager | Shipped from Hong Kong SAR |
| Voraussichtliche Lieferung | Apr 13 - Apr 18 (Wählen Sie Expressed Shipping) |
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SN74LVTH182512DGGR Ressourcen
| Marke | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| Mfr. Artikelnummer | SN74LVTH182512DGGR |
| Kategorie | Halbleiter › Logik-ICs › Logik - Speziallogik |
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SN74LVTH182512DGGR Technische Daten
| Hersteller | |
| Serie | 74LVTH |
| Logiktyp | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
| Versorgungsspannung | 2.7V ~ 3.6V |
| Anzahl der Bits | 18 |
| Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
| Montagetyp | Surface Mount |
| Paket / Fall | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
| Lieferantengerätepaket | 64-TSSOP |
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