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SN74BCT8244ANTG4

SN74BCT8244ANTG4

Nur als Referenz

Teilenummer SN74BCT8244ANTG4
PNEDA Teilenummer SN74BCT8244ANTG4
Beschreibung IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
Hersteller Texas Instruments
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Auf Lager 5.940
Lager Shipped from Hong Kong SAR
Voraussichtliche Lieferung Dez 29 - Jan 3 (Wählen Sie Expressed Shipping)
Guarantee Bis zu 1 Jahr [PNEDA-Garantie] *

SN74BCT8244ANTG4 Ressourcen

Marke Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. ArtikelnummerSN74BCT8244ANTG4
KategorieHalbleiterLogik-ICsLogik - Speziallogik

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SN74BCT8244ANTG4 Technische Daten

Hersteller
Serie74BCT
LogiktypScan Test Device with Buffers
Versorgungsspannung4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits8
Betriebstemperatur0°C ~ 70°C
MontagetypThrough Hole
Paket / Fall24-DIP (0.300", 7.62mm)
Lieferantengerätepaket24-PDIP

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Hersteller

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Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

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Hersteller

Diodes Incorporated

Serie

-

Logiktyp

-

Versorgungsspannung

-

Anzahl der Bits

-

Betriebstemperatur

-

Montagetyp

-

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Hersteller

Microchip Technology

Serie

100EP

Logiktyp

Differential Receiver/Driver

Versorgungsspannung

3V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

-

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

8-TSSOP, 8-MSOP (0.118", 3.00mm Width)

Lieferantengerätepaket

8-MSOP

Hersteller

NXP USA Inc.

Serie

-

Logiktyp

1:1, 1:2 Configurable Registered Buffer with Parity

Versorgungsspannung

1.7V ~ 2V

Anzahl der Bits

25, 14

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

96-LFBGA

Lieferantengerätepaket

96-LFBGA (13.5x5.5)

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Diodes Incorporated

Hersteller

Diodes Incorporated

Serie

74SSTVF

Logiktyp

Registered Buffer with SSTL_2 Compatible I/O for DDR

Versorgungsspannung

2.3V ~ 2.7V

Anzahl der Bits

14

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

48-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

Lieferantengerätepaket

48-TSSOP

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