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SN74BCT8244ANT

SN74BCT8244ANT

Nur als Referenz

Teilenummer SN74BCT8244ANT
PNEDA Teilenummer SN74BCT8244ANT
Beschreibung IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
Hersteller Texas Instruments
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Auf Lager 5.850
Lager Shipped from Hong Kong SAR
Voraussichtliche Lieferung Feb 27 - Mär 4 (Wählen Sie Expressed Shipping)
Guarantee Bis zu 1 Jahr [PNEDA-Garantie] *

SN74BCT8244ANT Ressourcen

Marke Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. ArtikelnummerSN74BCT8244ANT
KategorieHalbleiterLogik-ICsLogik - Speziallogik

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SN74BCT8244ANT Technische Daten

Hersteller
Serie74BCT
LogiktypScan Test Device with Buffers
Versorgungsspannung4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits8
Betriebstemperatur0°C ~ 70°C
MontagetypThrough Hole
Paket / Fall24-DIP (0.300", 7.62mm)
Lieferantengerätepaket24-PDIP

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Betriebstemperatur

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Montagetyp

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Hersteller

Serie

74LVCE

Logiktyp

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Versorgungsspannung

3V ~ 3.6V

Anzahl der Bits

19

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

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48-SSOP

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Hersteller

Serie

74ABT

Logiktyp

Scan Test Device with Registered Bus Transceiver

Versorgungsspannung

4.5V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

8

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

Lieferantengerätepaket

28-SOIC

SN74LVT8986PM

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Hersteller

Serie

74LVT

Logiktyp

Linking Addressable Scan Ports

Versorgungsspannung

2.7V ~ 3.6V

Anzahl der Bits

-

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

64-LQFP

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64-LQFP (10x10)

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Hersteller

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Serie

4000B

Logiktyp

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Versorgungsspannung

3V ~ 18V

Anzahl der Bits

4

Betriebstemperatur

-55°C ~ 125°C

Montagetyp

Through Hole

Paket / Fall

16-DIP (0.300", 7.62mm)

Lieferantengerätepaket

16-DIP

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