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SN74BCT8240ADW

SN74BCT8240ADW

Nur als Referenz

Teilenummer SN74BCT8240ADW
PNEDA Teilenummer SN74BCT8240ADW
Beschreibung IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Hersteller Texas Instruments
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Auf Lager 3.132
Lager Shipped from Hong Kong SAR
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SN74BCT8240ADW Ressourcen

Marke Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. ArtikelnummerSN74BCT8240ADW
KategorieHalbleiterLogik-ICsLogik - Speziallogik

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SN74BCT8240ADW Technische Daten

Hersteller
Serie74BCT
LogiktypScan Test Device with Inverting Buffers
Versorgungsspannung4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits8
Betriebstemperatur0°C ~ 70°C
MontagetypSurface Mount
Paket / Fall24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket24-SOIC

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Anzahl der Bits

4

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Montagetyp

Through Hole

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Hersteller

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Serie

10E

Logiktyp

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Versorgungsspannung

4.2V ~ 5.7V

Anzahl der Bits

5

Betriebstemperatur

0°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

28-LCC (J-Lead)

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74SSTU32864GBFG

IDT, Integrated Device Technology

Hersteller

IDT, Integrated Device Technology Inc

Serie

-

Logiktyp

1:1, 1:2 Configurable Registered Buffer

Versorgungsspannung

1.7V ~ 1.9V

Anzahl der Bits

25, 14

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

96-LFBGA

Lieferantengerätepaket

96-CABGA (13.5x5.5)

74GTLP22034DGVRG4

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Hersteller

Serie

74GTLP

Logiktyp

LVTTL-TO-GTLP Adjustable-Edge-Rate Registered Transceiver

Versorgungsspannung

3.15V ~ 3.45V

Anzahl der Bits

8

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

48-TFSOP (0.173", 4.40mm Width)

Lieferantengerätepaket

48-TVSOP

SSTUF32864AHLF

IDT, Integrated Device Technology

Hersteller

IDT, Integrated Device Technology Inc

Serie

-

Logiktyp

Configurable Registered Buffer for DDR2

Versorgungsspannung

1.7V ~ 1.9V

Anzahl der Bits

25, 14

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

96-LFBGA

Lieferantengerätepaket

96-CABGA (13.5x5.5)

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