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SN74ABT8952DWR

SN74ABT8952DWR

Nur als Referenz

Teilenummer SN74ABT8952DWR
PNEDA Teilenummer SN74ABT8952DWR
Beschreibung IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
Hersteller Texas Instruments
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Auf Lager 3.384
Lager Shipped from Hong Kong SAR
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Guarantee Bis zu 1 Jahr [PNEDA-Garantie] *

SN74ABT8952DWR Ressourcen

Marke Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. ArtikelnummerSN74ABT8952DWR
KategorieHalbleiterLogik-ICsLogik - Speziallogik

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SN74ABT8952DWR Technische Daten

Hersteller
Serie74ABT
LogiktypScan Test Device with Registered Bus Transceiver
Versorgungsspannung4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits8
Betriebstemperatur-40°C ~ 85°C
MontagetypSurface Mount
Paket / Fall28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket28-SOIC

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Betriebstemperatur

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Surface Mount

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8-SOIC

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Hersteller

Serie

74FB

Logiktyp

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Versorgungsspannung

4.5V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

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Betriebstemperatur

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Montagetyp

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Hersteller

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Serie

74VHC

Logiktyp

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Versorgungsspannung

4.5V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

8

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

48-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)

Lieferantengerätepaket

48-SSOP

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IDT, Integrated Device Technology

Hersteller

IDT, Integrated Device Technology Inc

Serie

-

Logiktyp

1:1, 1:2 Configurable Registered Buffer

Versorgungsspannung

1.7V ~ 1.9V

Anzahl der Bits

25, 14

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

96-LFBGA

Lieferantengerätepaket

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MC100EP16FDTR2G

ON Semiconductor

Hersteller

ON Semiconductor

Serie

100EP

Logiktyp

Differential Receiver/Driver

Versorgungsspannung

3V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

-

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

8-TSSOP, 8-MSOP (0.118", 3.00mm Width)

Lieferantengerätepaket

8-TSSOP

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