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SN74ABT8952DL

SN74ABT8952DL

Nur als Referenz

Teilenummer SN74ABT8952DL
PNEDA Teilenummer SN74ABT8952DL
Beschreibung IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP
Hersteller Texas Instruments
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Auf Lager 7.038
Lager Shipped from Hong Kong SAR
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SN74ABT8952DL Ressourcen

Marke Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. ArtikelnummerSN74ABT8952DL
KategorieHalbleiterLogik-ICsLogik - Speziallogik

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SN74ABT8952DL Technische Daten

Hersteller
Serie74ABT
LogiktypScan Test Device with Registered Bus Transceiver
Versorgungsspannung4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits8
Betriebstemperatur-40°C ~ 85°C
MontagetypSurface Mount
Paket / Fall28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket28-SSOP

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Hersteller

ON Semiconductor

Serie

100EL

Logiktyp

Differential Receiver

Versorgungsspannung

4.2V ~ 5.7V

Anzahl der Bits

1

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

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8-TSSOP, 8-MSOP (0.118", 3.00mm Width)

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8-TSSOP

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ON Semiconductor

Hersteller

ON Semiconductor

Serie

10EP

Logiktyp

Differential Receiver/Driver

Versorgungsspannung

3V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

4

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

20-TSSOP (0.173", 4.40mm Width)

Lieferantengerätepaket

20-TSSOP

SN74S1050D

Texas Instruments

Hersteller

Serie

74S

Logiktyp

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Versorgungsspannung

-

Anzahl der Bits

12

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

16-SOIC (0.154", 3.90mm Width)

Lieferantengerätepaket

16-SOIC

SY100EL16VFKI-TR

Microchip Technology

Hersteller

Microchip Technology

Serie

100EL

Logiktyp

Differential Receiver

Versorgungsspannung

3.3V, 5V

Anzahl der Bits

1

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

8-TSSOP, 8-MSOP (0.118", 3.00mm Width)

Lieferantengerätepaket

8-MSOP

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