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SN74ABT8652DL

SN74ABT8652DL

Nur als Referenz

Teilenummer SN74ABT8652DL
PNEDA Teilenummer SN74ABT8652DL
Beschreibung IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP
Hersteller Texas Instruments
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Auf Lager 8.376
Lager Shipped from Hong Kong SAR
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SN74ABT8652DL Ressourcen

Marke Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. ArtikelnummerSN74ABT8652DL
KategorieHalbleiterLogik-ICsLogik - Speziallogik

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SN74ABT8652DL Technische Daten

Hersteller
Serie74ABT
LogiktypScan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Versorgungsspannung4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits8
Betriebstemperatur-40°C ~ 85°C
MontagetypSurface Mount
Paket / Fall28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket28-SSOP

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Versorgungsspannung

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Anzahl der Bits

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Montagetyp

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Hersteller

Serie

74BCT

Logiktyp

Scan Test Device with D-Type Latches

Versorgungsspannung

4.5V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

8

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Surface Mount

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Texas Instruments

Hersteller

Serie

74HC

Logiktyp

Binary Full Adder with Fast Carry

Versorgungsspannung

2V ~ 6V

Anzahl der Bits

4

Betriebstemperatur

-55°C ~ 125°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

16-SOIC (0.154", 3.90mm Width)

Lieferantengerätepaket

16-SOIC

MAX9963AJCCQ+TD

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Hersteller

Maxim Integrated

Serie

-

Logiktyp

Comparator, Driver

Versorgungsspannung

-1.5V ~ 6.5V

Anzahl der Bits

4

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

100-TQFP Exposed Pad

Lieferantengerätepaket

100-TQFP-EPR (14x14)

Hersteller

NXP USA Inc.

Serie

-

Logiktyp

1:1, 1:2 Configurable Registered Buffer

Versorgungsspannung

1.7V ~ 2V

Anzahl der Bits

25, 14

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

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Lieferantengerätepaket

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