SN74ABT8646DW
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Teilenummer | SN74ABT8646DW |
PNEDA Teilenummer | SN74ABT8646DW |
Beschreibung | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC |
Hersteller | Texas Instruments |
Stückpreis | Angebot anfordern |
Auf Lager | 6.192 |
Lager | Shipped from Hong Kong SAR |
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SN74ABT8646DW Ressourcen
Marke | Texas Instruments |
ECAD Module | |
Mfr. Artikelnummer | SN74ABT8646DW |
Kategorie | Halbleiter › Logik-ICs › Logik - Speziallogik |
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SN74ABT8646DW Technische Daten
Hersteller | |
Serie | 74ABT |
Logiktyp | Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers |
Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
Anzahl der Bits | 8 |
Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
Montagetyp | Surface Mount |
Paket / Fall | 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
Lieferantengerätepaket | 28-SOIC |
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