SN74ABT8646DW
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| Teilenummer | SN74ABT8646DW |
| PNEDA Teilenummer | SN74ABT8646DW |
| Beschreibung | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC |
| Hersteller | Texas Instruments |
| Stückpreis | Angebot anfordern |
| Auf Lager | 6.192 |
| Lager | Shipped from Hong Kong SAR |
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SN74ABT8646DW Ressourcen
| Marke | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| Mfr. Artikelnummer | SN74ABT8646DW |
| Kategorie | Halbleiter › Logik-ICs › Logik - Speziallogik |
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SN74ABT8646DW Technische Daten
| Hersteller | |
| Serie | 74ABT |
| Logiktyp | Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers |
| Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
| Anzahl der Bits | 8 |
| Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
| Montagetyp | Surface Mount |
| Paket / Fall | 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| Lieferantengerätepaket | 28-SOIC |
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Hersteller Serie 74BCT Logiktyp Scan Test Device with Bus Transceivers Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V Anzahl der Bits 8 Betriebstemperatur 0°C ~ 70°C Montagetyp Through Hole Paket / Fall 24-DIP (0.300", 7.62mm) Lieferantengerätepaket 24-PDIP |
