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SN74ABT8646DL

SN74ABT8646DL

Nur als Referenz

Teilenummer SN74ABT8646DL
PNEDA Teilenummer SN74ABT8646DL
Beschreibung IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP
Hersteller Texas Instruments
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Auf Lager 12.654
Lager Shipped from Hong Kong SAR
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SN74ABT8646DL Ressourcen

Marke Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. ArtikelnummerSN74ABT8646DL
KategorieHalbleiterLogik-ICsLogik - Speziallogik

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SN74ABT8646DL Technische Daten

Hersteller
Serie74ABT
LogiktypScan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Versorgungsspannung4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits8
Betriebstemperatur-40°C ~ 85°C
MontagetypSurface Mount
Paket / Fall28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket28-SSOP

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Hersteller

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Serie

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Logiktyp

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Versorgungsspannung

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Anzahl der Bits

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Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Through Hole

Paket / Fall

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IDT, Integrated Device Technology

Hersteller

IDT, Integrated Device Technology Inc

Serie

74SSTV

Logiktyp

Registered Buffer with SSTL_2 Compatible I/O for DDR

Versorgungsspannung

2.3V ~ 2.7V

Anzahl der Bits

14

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

48-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

Lieferantengerätepaket

48-TSSOP

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Hersteller

Serie

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Logiktyp

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Versorgungsspannung

-

Anzahl der Bits

16

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Through Hole

Paket / Fall

20-DIP (0.300", 7.62mm)

Lieferantengerätepaket

20-PDIP

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Hersteller

Serie

74ACT

Logiktyp

Binary Full Adder with Fast Carry

Versorgungsspannung

4.5V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

4

Betriebstemperatur

-55°C ~ 125°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

16-SOIC (0.154", 3.90mm Width)

Lieferantengerätepaket

16-SOIC

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