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SN74ABT8543DW

SN74ABT8543DW

Nur als Referenz

Teilenummer SN74ABT8543DW
PNEDA Teilenummer SN74ABT8543DW
Beschreibung IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SOIC
Hersteller Texas Instruments
Stückpreis
1 ---------- $110,7894
50 ---------- $105,5961
100 ---------- $100,4029
200 ---------- $95,2096
400 ---------- $90,8819
500 ---------- $86,5542
Auf Lager 14.563
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SN74ABT8543DW Ressourcen

Marke Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. ArtikelnummerSN74ABT8543DW
KategorieHalbleiterLogik-ICsLogik - Speziallogik

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SN74ABT8543DW Technische Daten

Hersteller
Serie74ABT
LogiktypScan Test Device with Registered Bus Transceiver
Versorgungsspannung4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits8
Betriebstemperatur-40°C ~ 85°C
MontagetypSurface Mount
Paket / Fall28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket28-SOIC

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Hersteller

Serie

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Logiktyp

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Versorgungsspannung

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Anzahl der Bits

16

Betriebstemperatur

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Montagetyp

Surface Mount

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20-SOIC

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ON Semiconductor

Hersteller

ON Semiconductor

Serie

10H

Logiktyp

Driver/Receiver

Versorgungsspannung

-

Anzahl der Bits

2

Betriebstemperatur

0°C ~ 75°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

20-LCC (J-Lead)

Lieferantengerätepaket

20-PLCC (9x9)

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Hersteller

Serie

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Logiktyp

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Versorgungsspannung

3V ~ 18V

Anzahl der Bits

3

Betriebstemperatur

-55°C ~ 125°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

14-SOIC (0.154", 3.90mm Width)

Lieferantengerätepaket

14-SOIC

74GTLP2034DGVRG4

Texas Instruments

Hersteller

Serie

74GTLP

Logiktyp

LVTTL-TO-GTLP Adjustable-Edge-Rate Registered Transceiver

Versorgungsspannung

3.15V ~ 3.45V

Anzahl der Bits

8

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

48-TFSOP (0.173", 4.40mm Width)

Lieferantengerätepaket

48-TVSOP

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