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SN74ABT8543DLR

SN74ABT8543DLR

Nur als Referenz

Teilenummer SN74ABT8543DLR
PNEDA Teilenummer SN74ABT8543DLR
Beschreibung IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
Hersteller Texas Instruments
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Auf Lager 2.790
Lager Shipped from Hong Kong SAR
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Guarantee Bis zu 1 Jahr [PNEDA-Garantie] *

SN74ABT8543DLR Ressourcen

Marke Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. ArtikelnummerSN74ABT8543DLR
KategorieHalbleiterLogik-ICsLogik - Speziallogik

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SN74ABT8543DLR Technische Daten

Hersteller
Serie74ABT
LogiktypScan Test Device with Registered Bus Transceiver
Versorgungsspannung4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits8
Betriebstemperatur-40°C ~ 85°C
MontagetypSurface Mount
Paket / Fall28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket28-SSOP

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Hersteller

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Serie

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Logiktyp

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Versorgungsspannung

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Anzahl der Bits

14

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

48-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

Lieferantengerätepaket

48-TSSOP

SN74ABT8996DW

Texas Instruments

Hersteller

Serie

74ABT

Logiktyp

Addressable Scan Ports

Versorgungsspannung

4.5V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

10

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

Lieferantengerätepaket

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SN74ABT8245DWG4

Texas Instruments

Hersteller

Serie

74ABT

Logiktyp

Scan Test Device with Bus Transceivers

Versorgungsspannung

4.5V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

8

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

Lieferantengerätepaket

24-SOIC

SY100EL16VSKG

Microchip Technology

Hersteller

Microchip Technology

Serie

100EL

Logiktyp

Differential Receiver

Versorgungsspannung

3.3V, 5V

Anzahl der Bits

1

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

8-TSSOP, 8-MSOP (0.118", 3.00mm Width)

Lieferantengerätepaket

8-MSOP

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