SN74ABT18640DLR
Nur als Referenz
| Teilenummer | SN74ABT18640DLR | ||||||||||||||||||
| PNEDA Teilenummer | SN74ABT18640DLR | ||||||||||||||||||
| Beschreibung | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | ||||||||||||||||||
| Hersteller | Texas Instruments | ||||||||||||||||||
| Stückpreis |
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| Auf Lager | 19 | ||||||||||||||||||
| Lager | Shipped from Hong Kong SAR | ||||||||||||||||||
| Voraussichtliche Lieferung | Mär 6 - Mär 11 (Wählen Sie Expressed Shipping) | ||||||||||||||||||
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SN74ABT18640DLR Ressourcen
| Marke | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| Mfr. Artikelnummer | SN74ABT18640DLR |
| Kategorie | Halbleiter › Logik-ICs › Logik - Speziallogik |
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SN74ABT18640DLR Technische Daten
| Hersteller | |
| Serie | 74ABT |
| Logiktyp | Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers |
| Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
| Anzahl der Bits | 18 |
| Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
| Montagetyp | Surface Mount |
| Paket / Fall | 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
| Lieferantengerätepaket | 56-SSOP |
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