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SN74ABT18245ADLR

SN74ABT18245ADLR

Nur als Referenz

Teilenummer SN74ABT18245ADLR
PNEDA Teilenummer SN74ABT18245ADLR
Beschreibung IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
Hersteller Texas Instruments
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Auf Lager 3.996
Lager Shipped from Hong Kong SAR
Voraussichtliche Lieferung Dez 20 - Dez 25 (Wählen Sie Expressed Shipping)
Guarantee Bis zu 1 Jahr [PNEDA-Garantie] *

SN74ABT18245ADLR Ressourcen

Marke Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. ArtikelnummerSN74ABT18245ADLR
KategorieHalbleiterLogik-ICsLogik - Speziallogik

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SN74ABT18245ADLR Technische Daten

Hersteller
Serie74ABT
LogiktypScan Test Device with Bus Transceivers
Versorgungsspannung4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits18
Betriebstemperatur-40°C ~ 85°C
MontagetypSurface Mount
Paket / Fall56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket56-SSOP

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Anzahl der Bits

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Hersteller

IDT, Integrated Device Technology Inc

Serie

74SSTVF

Logiktyp

Registered Buffer with SSTL_2 Compatible I/O for DDR

Versorgungsspannung

2.3V ~ 2.7V

Anzahl der Bits

13, 26

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

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Hersteller

Serie

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Logiktyp

TTL/BTL Registered Transceiver

Versorgungsspannung

4.75V ~ 5.25V

Anzahl der Bits

8

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Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

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Hersteller

ON Semiconductor

Serie

10H

Logiktyp

Driver/Receiver

Versorgungsspannung

-

Anzahl der Bits

4

Betriebstemperatur

0°C ~ 75°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

20-LCC (J-Lead)

Lieferantengerätepaket

20-PLCC (9x9)

Hersteller

NXP USA Inc.

Serie

-

Logiktyp

1:1, 1:2 Configurable Registered Buffer

Versorgungsspannung

1.7V ~ 2V

Anzahl der Bits

25, 14

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

96-LFBGA

Lieferantengerätepaket

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