SN74ABT18245ADL
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| Teilenummer | SN74ABT18245ADL |
| PNEDA Teilenummer | SN74ABT18245ADL |
| Beschreibung | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP |
| Hersteller | Texas Instruments |
| Stückpreis | Angebot anfordern |
| Auf Lager | 7.686 |
| Lager | Shipped from Hong Kong SAR |
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SN74ABT18245ADL Ressourcen
| Marke | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| Mfr. Artikelnummer | SN74ABT18245ADL |
| Kategorie | Halbleiter › Logik-ICs › Logik - Speziallogik |
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SN74ABT18245ADL Technische Daten
| Hersteller | |
| Serie | 74ABT |
| Logiktyp | Scan Test Device with Bus Transceivers |
| Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
| Anzahl der Bits | 18 |
| Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
| Montagetyp | Surface Mount |
| Paket / Fall | 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
| Lieferantengerätepaket | 56-SSOP |
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