SN74ABT18245ADGGR
Nur als Referenz
| Teilenummer | SN74ABT18245ADGGR | ||||||||||||||||||
| PNEDA Teilenummer | SN74ABT18245ADGGR | ||||||||||||||||||
| Beschreibung | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP | ||||||||||||||||||
| Hersteller | Texas Instruments | ||||||||||||||||||
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| Auf Lager | 1.050 | ||||||||||||||||||
| Lager | Shipped from Hong Kong SAR | ||||||||||||||||||
| Voraussichtliche Lieferung | Nov 17 - Nov 22 (Wählen Sie Expressed Shipping) | ||||||||||||||||||
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SN74ABT18245ADGGR Ressourcen
| Marke | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| Mfr. Artikelnummer | SN74ABT18245ADGGR |
| Kategorie | Halbleiter › Logik-ICs › Logik - Speziallogik |
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SN74ABT18245ADGGR Technische Daten
| Hersteller | |
| Serie | 74ABT |
| Logiktyp | Scan Test Device with Bus Transceivers |
| Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
| Anzahl der Bits | 18 |
| Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
| Montagetyp | Surface Mount |
| Paket / Fall | 56-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
| Lieferantengerätepaket | 56-TSSOP |
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