8V18646AIPMREP
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| Teilenummer | 8V18646AIPMREP |
| PNEDA Teilenummer | 8V18646AIPMREP |
| Beschreibung | IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP |
| Hersteller | Texas Instruments |
| Stückpreis | Angebot anfordern |
| Auf Lager | 2.034 |
| Lager | Shipped from Hong Kong SAR |
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8V18646AIPMREP Ressourcen
| Marke | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| Mfr. Artikelnummer | 8V18646AIPMREP |
| Kategorie | Halbleiter › Schnittstellen-ICs › Schnittstelle - Spezialisiert |
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8V18646AIPMREP Technische Daten
| Hersteller | |
| Serie | SCOPE™, Widebus™ |
| Anwendungen | Circuit Board Testing |
| Schnittstelle | 4-Wire Test Access Port (TAP) |
| Spannung - Versorgung | 2.7V ~ 3.6V |
| Paket / Fall | 64-LQFP |
| Lieferantengerätepaket | 64-LQFP (10x10) |
| Montagetyp | Surface Mount |
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