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SN74BCT8373ADWRG4

SN74BCT8373ADWRG4

Nur als Referenz

Teilenummer SN74BCT8373ADWRG4
PNEDA Teilenummer SN74BCT8373ADWRG4
Beschreibung IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
Hersteller Texas Instruments
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Auf Lager 4.662
Lager Shipped from Hong Kong SAR
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Guarantee Bis zu 1 Jahr [PNEDA-Garantie] *

SN74BCT8373ADWRG4 Ressourcen

Marke Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. ArtikelnummerSN74BCT8373ADWRG4
KategorieHalbleiterLogik-ICsLogik - Speziallogik

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SN74BCT8373ADWRG4 Technische Daten

Hersteller
Serie74BCT
LogiktypScan Test Device with D-Type Latches
Versorgungsspannung4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits8
Betriebstemperatur0°C ~ 70°C
MontagetypSurface Mount
Paket / Fall24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket24-SOIC

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Renesas Electronics America Inc.

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Anzahl der Bits

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Betriebstemperatur

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Montagetyp

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Hersteller

Serie

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Logiktyp

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Versorgungsspannung

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Anzahl der Bits

5

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

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Hersteller

Serie

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Logiktyp

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Versorgungsspannung

4.5V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

-

Betriebstemperatur

-55°C ~ 125°C

Montagetyp

Through Hole

Paket / Fall

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24-CDIP

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Serie

-

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Versorgungsspannung

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Anzahl der Bits

28

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

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Paket / Fall

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Lieferantengerätepaket

160-TFBGA (9x13)

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ON Semiconductor

Hersteller

ON Semiconductor

Serie

100EP

Logiktyp

Differential Receiver/Driver

Versorgungsspannung

3V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

-

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

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Lieferantengerätepaket

8-TSSOP

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