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SN74BCT8244ANT

SN74BCT8244ANT

Nur als Referenz

Teilenummer SN74BCT8244ANT
PNEDA Teilenummer SN74BCT8244ANT
Beschreibung IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
Hersteller Texas Instruments
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Auf Lager 5.850
Lager Shipped from Hong Kong SAR
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Guarantee Bis zu 1 Jahr [PNEDA-Garantie] *

SN74BCT8244ANT Ressourcen

Marke Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. ArtikelnummerSN74BCT8244ANT
KategorieHalbleiterLogik-ICsLogik - Speziallogik

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SN74BCT8244ANT Technische Daten

Hersteller
Serie74BCT
LogiktypScan Test Device with Buffers
Versorgungsspannung4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits8
Betriebstemperatur0°C ~ 70°C
MontagetypThrough Hole
Paket / Fall24-DIP (0.300", 7.62mm)
Lieferantengerätepaket24-PDIP

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Anzahl der Bits

-

Betriebstemperatur

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Montagetyp

Through Hole

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Logiktyp

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Versorgungsspannung

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Anzahl der Bits

4

Betriebstemperatur

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Montagetyp

Through Hole

Paket / Fall

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Hersteller

Microchip Technology

Serie

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Logiktyp

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Versorgungsspannung

4.2V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

4

Betriebstemperatur

0°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

28-LCC (J-Lead)

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Hersteller

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Versorgungsspannung

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Anzahl der Bits

19

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

48-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)

Lieferantengerätepaket

48-SSOP

Hersteller

NXP USA Inc.

Serie

-

Logiktyp

1:2 Registered Buffer with Parity

Versorgungsspannung

1.7V ~ 1.9V

Anzahl der Bits

28

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

160-TFBGA

Lieferantengerätepaket

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