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SN74ABT8646DWR

SN74ABT8646DWR

Nur als Referenz

Teilenummer SN74ABT8646DWR
PNEDA Teilenummer SN74ABT8646DWR
Beschreibung IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
Hersteller Texas Instruments
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Auf Lager 3.816
Lager Shipped from Hong Kong SAR
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Guarantee Bis zu 1 Jahr [PNEDA-Garantie] *

SN74ABT8646DWR Ressourcen

Marke Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. ArtikelnummerSN74ABT8646DWR
KategorieHalbleiterLogik-ICsLogik - Speziallogik

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SN74ABT8646DWR Technische Daten

Hersteller
Serie74ABT
LogiktypScan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Versorgungsspannung4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits8
Betriebstemperatur-40°C ~ 85°C
MontagetypSurface Mount
Paket / Fall28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket28-SOIC

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Surface Mount

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Anzahl der Bits

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-

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Surface Mount

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Hersteller

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Serie

-

Logiktyp

Registered Buffer with SSTL_2 Compatible I/O for DDR

Versorgungsspannung

2.3V ~ 2.7V

Anzahl der Bits

13, 26

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

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Lieferantengerätepaket

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Diodes Incorporated

Hersteller

Diodes Incorporated

Serie

-

Logiktyp

-

Versorgungsspannung

-

Anzahl der Bits

-

Betriebstemperatur

-

Montagetyp

-

Paket / Fall

-

Lieferantengerätepaket

-

SN74ABT8652DLR

Texas Instruments

Hersteller

Serie

74ABT

Logiktyp

Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers

Versorgungsspannung

4.5V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

8

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)

Lieferantengerätepaket

28-SSOP

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