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SN74ABT8543DWR

SN74ABT8543DWR

Nur als Referenz

Teilenummer SN74ABT8543DWR
PNEDA Teilenummer SN74ABT8543DWR
Beschreibung IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
Hersteller Texas Instruments
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Auf Lager 7.434
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SN74ABT8543DWR Ressourcen

Marke Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. ArtikelnummerSN74ABT8543DWR
KategorieHalbleiterLogik-ICsLogik - Speziallogik

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SN74ABT8543DWR Technische Daten

Hersteller
Serie74ABT
LogiktypScan Test Device with Registered Bus Transceiver
Versorgungsspannung4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits8
Betriebstemperatur-40°C ~ 85°C
MontagetypSurface Mount
Paket / Fall28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket28-SOIC

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Serie

-

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-

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-

Hersteller

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Serie

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Logiktyp

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Versorgungsspannung

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Anzahl der Bits

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Betriebstemperatur

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Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

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Lieferantengerätepaket

56-HVQFN

SN74AS181ADWR

Texas Instruments

Hersteller

Serie

74AS

Logiktyp

Arithmetic Logic Unit

Versorgungsspannung

4.5V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

-

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

Lieferantengerätepaket

24-SOIC

SY100EL16VZC-TR

Microchip Technology

Hersteller

Microchip Technology

Serie

100EL

Logiktyp

Differential Receiver

Versorgungsspannung

3.3V, 5V

Anzahl der Bits

1

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

8-SOIC (0.154", 3.90mm Width)

Lieferantengerätepaket

8-SOIC

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