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SN74ABT8543DLR

SN74ABT8543DLR

Nur als Referenz

Teilenummer SN74ABT8543DLR
PNEDA Teilenummer SN74ABT8543DLR
Beschreibung IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
Hersteller Texas Instruments
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Lager Shipped from Hong Kong SAR
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SN74ABT8543DLR Ressourcen

Marke Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. ArtikelnummerSN74ABT8543DLR
KategorieHalbleiterLogik-ICsLogik - Speziallogik

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SN74ABT8543DLR Technische Daten

Hersteller
Serie74ABT
LogiktypScan Test Device with Registered Bus Transceiver
Versorgungsspannung4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits8
Betriebstemperatur-40°C ~ 85°C
MontagetypSurface Mount
Paket / Fall28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket28-SSOP

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Versorgungsspannung

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Anzahl der Bits

8

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

48-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

Lieferantengerätepaket

48-TSSOP

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Hersteller

ON Semiconductor

Serie

100EP

Logiktyp

Differential Receiver/Driver

Versorgungsspannung

3V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

-

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

8-TSSOP, 8-MSOP (0.118", 3.00mm Width)

Lieferantengerätepaket

8-TSSOP

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ON Semiconductor

Hersteller

ON Semiconductor

Serie

4000B

Logiktyp

Full Adder

Versorgungsspannung

3V ~ 18V

Anzahl der Bits

4

Betriebstemperatur

-55°C ~ 125°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

16-SOIC (0.154", 3.90mm Width)

Lieferantengerätepaket

16-SOIC

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Hersteller

Maxim Integrated

Serie

ATE

Logiktyp

Comparator, Driver

Versorgungsspannung

-2.2V ~ 5.2V

Anzahl der Bits

4

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

80-TQFP Exposed Pad

Lieferantengerätepaket

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SN74LS31DRE4

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Hersteller

Serie

74LS

Logiktyp

Delay Element

Versorgungsspannung

4.75V ~ 5.25V

Anzahl der Bits

6

Betriebstemperatur

0°C ~ 70°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

16-SOIC (0.154", 3.90mm Width)

Lieferantengerätepaket

16-SOIC

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