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SN74ABT18640DLRG4

SN74ABT18640DLRG4

Nur als Referenz

Teilenummer SN74ABT18640DLRG4
PNEDA Teilenummer SN74ABT18640DLRG4
Beschreibung IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP
Hersteller Texas Instruments
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Auf Lager 7.056
Lager Shipped from Hong Kong SAR
Voraussichtliche Lieferung Nov 4 - Nov 9 (Wählen Sie Expressed Shipping)
Guarantee Bis zu 1 Jahr [PNEDA-Garantie] *

SN74ABT18640DLRG4 Ressourcen

Marke Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. ArtikelnummerSN74ABT18640DLRG4
KategorieHalbleiterLogik-ICsLogik - Speziallogik

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SN74ABT18640DLRG4 Technische Daten

Hersteller
Serie74ABT
LogiktypScan Test Device with Inverting Bus Transceivers
Versorgungsspannung4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits18
Betriebstemperatur-40°C ~ 85°C
MontagetypSurface Mount
Paket / Fall56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket56-SSOP

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Hersteller

Serie

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Logiktyp

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Versorgungsspannung

4.5V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

8

Betriebstemperatur

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Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

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Hersteller

Microchip Technology

Serie

10EP

Logiktyp

Differential Receiver/Driver

Versorgungsspannung

3V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

1

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

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Hersteller

ON Semiconductor

Serie

100EP

Logiktyp

Differential Receiver/Driver

Versorgungsspannung

3V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

4

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

20-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

Lieferantengerätepaket

20-SOIC

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Hersteller

Microchip Technology

Serie

10EL

Logiktyp

Differential Receiver

Versorgungsspannung

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Anzahl der Bits

1

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

8-SOIC (0.154", 3.90mm Width)

Lieferantengerätepaket

8-SOIC

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Hersteller

Serie

74ABT

Logiktyp

Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers

Versorgungsspannung

4.5V ~ 5.5V

Anzahl der Bits

8

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Montagetyp

Surface Mount

Paket / Fall

28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

Lieferantengerätepaket

28-SOIC

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